时钟同步论文

高速总线设计时延分析方法
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可测试性技术的现状和未来
一、可测试性技术的现状与未来（论文文献综述）李松[1]（2020）在《基于MPU可测试性设计扫描测试方法研究》文中指出随着集成电路工艺尺寸不断的缩小和产业化进程的加快,对芯片的...